雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67雷達物位計ZNTEKPS67

雷達物位計
一、工作原理
    雷達物位計發(fā)射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件背轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。
    即使在存在虛假反射的時候，新的微處理技術(shù)和的ECHOFOX-軟件也可以準確地分析出物位回波。
    通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。
二、產(chǎn)品特點
1.不受溫度和壓力的影響
  微波的運行幾乎不受環(huán)境溫度和壓力的影響，因此雷達物位計非常適用于復(fù)雜的過程條件。過程壓力從真空到160bar，過程溫度-40...400℃，測量沒有問題。
2.不受被測介質(zhì)特性的影響
  更換被測介質(zhì)的成分或更換整個介質(zhì)，不會影響測量結(jié)果，不需要重新調(diào)試。
3.使用頻率
  ZNTEK的雷達物位計使用兩種不同的頻率范圍，因此應(yīng)用范圍可以更廣。K-頻段的儀表的頻率范圍為20GHz以上。通過使用這個頻率范圍，天線可以更小，過程連接也可以更小。由于信號聚焦好，測量系統(tǒng)的精度更高。C-頻段的儀表采用低頻，大約6GHz。在一般情況下，天線系統(tǒng)上粘附介質(zhì)，污染或介質(zhì)表面產(chǎn)生泡沫不影響測量。
4.功能的安全穩(wěn)定性(SIL)
  雷達物位計ZNTEKPS61，62，65，67，68和69可以用于對測量安全性有特殊要求的應(yīng)用。
5.儀表選型
  ZNTEKPS60系列雷達物位計可以用于任何應(yīng)用。我們可以提供不同的天線，這樣就產(chǎn)生不同的發(fā)射角、測量范圍和測量特性。正確的儀表選型要根據(jù)應(yīng)用條件。
6.服務(wù)維護簡便
  由于采用非接觸式測量，ZNTEKPS的服務(wù)和維護都非常簡便。

特  征：四氟錐面天線，防腐、防凝結(jié)。
應(yīng)  用：適合食品、醫(yī)藥等行業(yè)的強腐蝕性液體，或衛(wèi)生級環(huán)境測量。
ZUI大量程：20M
測量精度：±3mm
過程連接：不銹鋼316L喇叭/PTFE振子
天線結(jié)構(gòu)：錐面振子，防凝結(jié)物
過程溫度：(-40～150)℃
過程壓力：(-0.1～1.6)MPa 
頻率范圍：26GHz
信號輸出：(4～20)mA/HART
電  源：兩線制/四線制

YB43020DF  YB43020BF  YB43020F  YB4320F  YB4330  YB4328  GOS622G  XJ2812C 

 XJ2811C  Agilent 4263B LCR  AV2782  CC2520/A  TH2615F  TH2617  TH2683  TH2686 

 TH2776  TH2810D  TH2811DLCR  TH2816A/17A  TH2819A  TH2820 LCR  TH2821  TH2828 

 HZ2520  HZ2521